日本陽電子科学会会報「陽電子科学」

■第8号(2017年)  [PDFファイル(2.7 MB)

  • 巻頭言
  • 入門講座
    • 陽電子ビームによる表面層欠陥分析
      藤浪 真紀(千葉大),伊藤 賢志(産総研)  [PDFファイル(1.2 MB)
    • 表面層の欠陥分析手法であるエネルギー可変陽電子消滅法(variable-energy positron annihilation spectroscopy, VEPAS)について,原理,データ解析および応用例を解説する.VEPASでは,Sパラメーターの陽電子エネルギー依存性を測定することにより深さ方向の欠陥分布を決定できる.また,同時計数ドップラー広がりやパルス化陽電子ビームを用いた陽電子寿命測定により,薄膜内の空孔化学状態や空孔サイズをそれぞれ評価することができる.応用例として,半導体Siのイオン注入誘起欠陥,SiO2低誘電体膜の空隙評価および水浄化における高分子分離膜の空隙と阻止率の相関を紹介する.

  • 最近の研究から
    • 高エネルギー電子線により水中で生成された2次電子の動的挙動
      甲斐 健師(原子力機構),横谷 明徳,藤井 健太郎,渡邊 立子(量研機構)
      PDFファイル(1.0 MB)
    • DNA損傷推定のため,水中における2次電子の動的挙動を計算した.水中で減速している2次電子は,親カチオンのクーロン場に引きつけられ,その半径2 nm以内の領域に12.6 %の電子が分布する.2次電子による電離と電子的励起の約40 %は親カチオンから半径1 nm以内で誘発される.これらの計算結果から,複雑なDNA損傷が生成され得ることを予測した.この複雑損傷は細胞死や染色体異常のような生物影響の誘発に関与する可能性がある.

      MP4ファイル(1 MB)

      (1次電子のエネルギーが500 eVのときの飛跡構造.右図中には照射10 fs後の1次電子位置,2次電子位置,電子的励起位置および電離位置を示している.動画をクリックすると大きなサイズの動画になります.) 

    • 電子消滅分光法を用いた金属の照射損傷
      藤浪 真紀(千葉大),小野 円佳,伊藤 節郎(旭硝子)  [PDFファイル(906 kB)
    • 陽電子消滅法をシリカ系ガラスの空隙研究に応用した.シリカガラスでは仮想温度の変化による高密度化によりポジトロニウムのピックオフ消滅の長寿命化がみられ,空隙径が大きくなることが示された.この寿命変化は,レイリー散乱強度測定における密度ゆらぎの結果とよい相関を示し,ポジトロニウムが検出している空隙が光損失の因子であることが示唆された.一方,アルカリ金属やアルカリ土類金属イオンを含むソーダライムガラスでは,高密度化により寿命は短くなり,シリカガラスとは逆の結果となった.

  • 研究室紹介
    • 茨城大学 理工学研究科 量子線科学専攻 物質量子科学コース 平出研究室
      平出 哲也(茨城大)  [PDFファイル(686 kB)

  • ご案内  [PDFファイル(629 kB)
    • 2016年度量子ビームサイエンスフェスタ(協賛)
    • 第54回アイソトープ・放射線研究発表会(共催)
    • 第10回陽電子科学研究交流会
    • 第60回放射線化学討論会(共催)
    • 京都大学原子炉実験所専門研究会「陽電子科学とその理工学への応用」
    • 12th International Workshop on Positron and Positronium Chemistry (PPC12)
    • Positron Studies of Defects 2017 (PSD17)
    • 18th International Conference on Rositron Annihikation (ICPA18)
    • 15th International Workshop on Slow Positron Beam Techniques and Applications (SLOPOS15)

  • 共同利用施設から  [PDFファイル(636 kB)
    • KEK 物質構造科学研究所フォトンファクトリー低速陽電子実験施設
    • 産業技術総合研究所 高強度低速陽電子ビームライン
    • 京都大学原子炉実験所高強度低速陽電子ビームラインの現状

  • 学会印象記  [PDFファイル(1.0 MB)
    • 第9回陽電子科学研究交流会の報告と印象記

  • その他  [PDFファイル(666 kB)
    • 事務局から
    • 日本陽電子科学会 会則
    • 日本陽電子科学会会報「陽電子科学」投稿規程および投稿の手引き
    • 編集後記

第8号表紙